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1SMA5937BT3

1SMA5937BT3资料
1SMA5937BT3
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Manufacturer:ON
Description:Members of the Texas Instruments SCOPE ™ Family of Testability Products Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Functionally Equivalent to F245 and ABT245 in the Normal-Function Mode SCOPE ™ Instruction Set: C IEEE Standard 1149.1-1990 Required   Instructions, Optional INTEST, CLAMP,   and HIGHZ C Parallel-Signature Analysis at Inputs   With Masking Option C Pseudo-Random Pattern Generation   From Outputs C Sample Inputs/Toggle Outputs C Binary Count From Outputs C Even-Parity Opcodes Two Boundary-Scan Cells per I/O for Greater Flexibility State-of-the-Art EPIC-B™ BiCMOS Design Significantly Reduces Power Dissipation Package Options Include Plastic Small-Outline Packages (DW), Ceramic Chip Carriers(FK), and Standard Ceramic DIPs (JT)
 
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  1PCS 100PCS 1K 10K  
价 格  
 
 
型 号：1SMA5937BT3
厂 家：ON
封 装：2009
批 号：65000
数 量：SMA
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